Titel |
Patent- und Gebrauchsmusterverletzung / Klaus Haft ; Tobias Hahn |
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Beteiligt |
Klaus Haft (Verfasser) |
Erschienen |
Berlin: BWV, Berliner Wiss.-Verl. |
Ausgabe |
2., überarb. Aufl. |
Umfang |
51 S. |
ISBN |
978-3-8305-1972-0 |
Sprache |
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Land |
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Themengebiet |
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Thema |
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DDC-Notation |
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Reihe |
Gewerblicher Rechtsschutz |
Frühere / spätere Titel |
3., überarb. Aufl.: : Patent- und Gebrauchsmusterverletzung |
Datensatz-ID |
1016891636 |
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