Titel |
Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie / Jan Sickmann. Gutachter: Hannes Lichte ; Christoph T. Koch. Betreuer: Hannes Lichte |
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Beteiligt |
Jan Sickmann (Verfasser) |
Erschienen |
Dresden: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden |
Umfang |
Online-Ressource |
Hochschulschrift |
Dresden, Technische Universität Dresden, Diss., 2014 |
Sprache |
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Land |
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Themengebiet |
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Thema |
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Persistent Identifier |
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Datensatz-ID |
1069096296 |
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