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Małgorzata Kot, Thomas Schröder, Karol Fröhlich u. a.

In-operando hard X-ray photoelectron spectroscopy study on the resistive switching physics of HfO2-based RRAM

Cottbus: BTU Cottbus - Senftenberg, 2014

Titel

In-operando hard X-ray photoelectron spectroscopy study on the resistive switching physics of HfO2-based RRAM / Malgorzata Sowinska ; Thomas Schröder, Karol Fröhlich, Lambert Alff

Beteiligt

Małgorzata Kot (Verfasser)
Thomas Schröder (Akademischer Betreuer)
Karol Fröhlich (Akademischer Betreuer)
Lambert Alff (Akademischer Betreuer)

Erschienen

Cottbus: BTU Cottbus - Senftenberg
2014

Umfang

Online-Ressource

Hochschulschrift

Dissertation, Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, 2014

Sprache

Englisch

Land

Deutschland

Themen­gebiet

Physik

Thema

Röntgenspektroskopie
Defekt
FRAM <Informatik>
Dünne Schicht

DDC-Notation

530.4175

Persistent Identifier

urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-30076 (URN)

Datensatz-ID

1114282871
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