Titel |
Advanced Characterization of Interfaces and Thin Films |
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Beteiligt |
Ritesh Sachan (Verfasser) |
Erschienen in |
JOM : a publication of the Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 69, 2, 7.12.2016, date:2.2017, Seite 225-226 |
Erschienen |
2016 |
Sprache |
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Land |
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Themengebiet |
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Thema |
Engineering.
Engineering, general. Chemistry/Food Science, general. Physics, general.
Environment, general.
Earth Sciences, general. |
Persistent Identifier |
urn:nbn:de:101:1-2018081118280570403247 (URN) |
Datensatz-ID |
1164311174 |
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