Titel |
Charakterisierung von Sc(x)Al(1-x)N-Schichten für die Anwendung in der Magnetfeldsensorik / Tim Hofmann ; Gutachter: Jörg Pezoldt ; Betreuer: Stefan Krischok |
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Beteiligt |
Tim Hofmann (Verfasser) |
Erschienen |
Ilmenau: ilmedia |
Umfang |
Online-Ressource |
Hochschulschrift |
Bachelorarbeit, Ilmenau, ilmedia |
Sprache |
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Land |
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Themengebiet |
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Persistent Identifier |
urn:nbn:de:gbv:ilm1-2019200209 (URN) |
Datensatz-ID |
1184797250 |
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