Titel |
Quantitative measurements of internal electric fields with differential phase contrast microscopy on InGaN/GaN quantum well structures |
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Beteiligt |
Matthias Lohr (Verfasser)
Ralph Schregle (Verfasser) Michael Jetter (Verfasser) Clemens Wächter (Verfasser)
Knut Müller‐Caspary (Verfasser)
Thorsten Mehrtens (Verfasser) Andreas Rosenauer (Verfasser) Ines Pietzonka (Verfasser) Martin Strassburg (Verfasser) Josef Zweck (Verfasser) |
Erschienen in |
Physica status solidi. B, Basic solid state physics 253, 1, 2016, Seite 140-144 |
Erschienen |
08.10.2015 |
Sprache |
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Land |
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Thema |
DPC
Efficiency droop EFTEM electric fields
GaN
HAADF IMFP MQW QCSE quantification STEM |
Persistent Identifier |
urn:nbn:de:101:1-2022112105471177311712 (URN) |
Datensatz-ID |
1273237609 |
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