Titel |
Tapered Cross Section Photoelectron Spectroscopy Provides Insights into the Buried Interfaces of III‐V Semiconductor Devices |
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Beteiligt |
Clément Maheu (Verfasser)
Mohammad Amin Zare Pour (Verfasser) Iban Damestoy (Verfasser) David Ostheimer (Verfasser)
Maximilian Mellin (Verfasser)
Dominik Christian Moritz (Verfasser) Agnieszka Paszuk (Verfasser) Wolfram Jaegermann (Verfasser) Thomas Mayer (Verfasser) Thomas Hannappel (Verfasser) Jan Philipp Hofmann (Verfasser) |
Erschienen in |
Advanced materials interfaces 04.12.2022 |
Erschienen |
04.12.2022 |
Sprache |
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Land |
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Thema |
III‐V semiconductors |
Persistent Identifier |
urn:nbn:de:101:1-2022120514021029619449 (URN) |
Datensatz-ID |
1274683106 |
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