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C. Länger, Philipp Ernst, Markus Bender u. a.

Single-ion induced surface modifications on hydrogen-covered Si(001) surfaces—significant difference between slow highly charged and swift heavy ions

Darmstadt: Universitäts- und Landesbibliothek, 2024

Titel

Single-ion induced surface modifications on hydrogen-covered Si(001) surfaces—significant difference between slow highly charged and swift heavy ions / C. Länger, P. Ernst, M. Bender, D. Severin, C. Trautmann, M. Schleberger, M. Dürr

Beteiligt
C. Länger (Verfasser)
Philipp Ernst (Verfasser)
Markus Bender (Verfasser)
D. Severin (Verfasser)
Christina Trautmann (Verfasser)
Marika Schleberger (Verfasser)
Michael Dürr (Verfasser)

Erschienen

Darmstadt: Universitäts- und Landesbibliothek
2024

Umfang

Online-Ressource

Sprache

Englisch

Land

Deutschland

Themen­gebiet

Physik

Thema

swift heavy ions
silicon
highly charged ions
scanning tunneling microscopy
STM

DDC-Notation

530.417

Persistent Identifier

urn:nbn:de:tuda-tuprints-206218 (URN)
10.26083/tuprints-00020621 (DOI)

Weitere Angaben

In: New Journal of Physics, 23, (9), IOP Publishing, ISSN 1367-2630

Datensatz-ID

1319418252
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