Titel |
X-ray and image analysis in electron microscopy / John J. Friel & Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlin (married name: Bergholtz) |
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Beteiligt |
John J. Friel (Verfasser) |
Erschienen |
Berlin: Bruker Nano GmbH |
Ausgabe |
3rd edition |
Umfang |
118 Seiten : Illustrationen + 1 Poster |
ISBN |
978-3-00-053537-6 |
Sprache |
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Land |
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Themengebiet |
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Thema |
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DDC-Notation |
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Datensatz-ID |
1347518878 |
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