Titel |
Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces / Chia-Wei Chen ; Jürgen Beyerer, Andreas Fischer |
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Beteiligt |
Chia-Wei Chen (Verfasser) |
Erschienen |
Karlsruhe: KIT Scientific Publishing |
Umfang |
Online-Ressource |
Hochschulschrift |
Dissertation, Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2024 |
Sprache |
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Land |
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Themengebiet |
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Thema |
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DDC-Notation |
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Reihe |
Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 24 |
Persistent Identifier |
urn:nbn:de:101:1-2504240340028.007268202636 (URN) |
Datensatz-ID |
1363873296 |
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