Titel |
Trace element enrichment on a quartz glass surface used as a sample support of an X-ray spectrometer for the subnanogram range = Spurenelementanreicherung an der Quarzglasoberfläche von Probenträgern eines Röntgenfluorescenzspektrometers für den Subnanogrammbereich / J. Knoth and H. Schwenke |
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Beteiligt |
Joachim Knoth (Verfasser) |
Erschienen |
[Geesthacht]: Ges. für Kernenergieverwertung in Schiffbau u. Schiffahrt mbH |
Umfang |
[2] S. |
Themengebiet |
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Reihe |
Gesellschaft für Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt mbH ; 79/E/13 |
Weitere Angaben |
Aus: Fresenius-Zeitschrift für analytische Chemie. 294. 1979. |
Datensatz-ID |
790666855 |
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