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Reiner W. Hartenstein und Andrea Wodtko

Automatic generation of functional test patterns from RT language source : accepted for presentation at the EUROMICRO symposium, Brussels, Belgium, Sept. 1985

Kaiserslautern: Univ., Fachbereich Informatik, 1985

Titel

Automatic generation of functional test patterns from RT language source : accepted for presentation at the EUROMICRO symposium, Brussels, Belgium, Sept. 1985 / Reiner W. Hartenstein ; Andrea Wodtko. [Fachbereich Informatik, Univ. Kaiserslautern]

Beteiligt

Reiner W. Hartenstein (Verfasser)
Andrea Wodtko (Verfasser)

Erschienen

Kaiserslautern: Univ., Fachbereich Informatik
1985

Umfang

7 Bl. : graph. Darst.

Themen­gebiet

Informatik
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Reihe

Interner Bericht / Technische Universität Kaiserslautern, Fachbereich Informatik ; 131

Datensatz-ID

860507394
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