Titel |
MAIA : Einführung in die Material-Intensitäts-Analyse nach dem MIPS-Konzept / Friedrich Schmidt-Bleek ... In Zusammenarbeit mit Ralf Behrensmeier ... |
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Beteiligt |
Friedrich Schmidt-Bleek (Mitwirkender) |
Erschienen |
Berlin, Basel, Boston: Birkhäuser |
Umfang |
110 S. |
ISBN |
978-3-7643-5949-2 |
Themengebiet |
Wirtschaft |
Reihe |
Wuppertal-Texte |
Weitere Angaben |
Literaturverz. S. 102 - 107 |
Datensatz-ID |
953299880 |
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