Titel |
Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation / vorgelegt von Stephan Heck |
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Beteiligt |
Stephan Heck (Verfasser) |
Erschienen |
[2003] |
Umfang |
Online-Ressource |
Hochschulschrift |
Marburg, Univ., Diss., 2002 |
Sprache |
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Themengebiet |
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Thema |
Silicium, Amorpher Halbleiter, Wasserstoff, Lichtinduzierter Defekt |
DDC-Notation |
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Andere Ausgaben |
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Investigation of light induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation |
Persistent Identifier |
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Datensatz-ID |
972799400 |
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