Titel |
Thin film analysis by x-ray scattering / Mario Birkholz. With contributions by Paul F. Fewster ; Christoph Genzel |
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Beteiligt |
Mario Birkholz (Mitwirkender) |
Erschienen |
Weinheim: Wiley-VCH |
Umfang |
XXII, 356 S. : Ill., graph. Darst. |
ISBN |
978-3-527-31052-4 |
Sprache |
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Land |
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Themengebiet |
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Thema |
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Andere Ausgaben |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering |
Weitere Angaben |
Literaturangaben |
Datensatz-ID |
973333952 |
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