Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Go to:

Knowledge Web

Subject heading
Subject heading

Allgemeinbegriff

Durchstrahlungselektronenmikroskop

Elektronenmikroskop

Subject heading

Durchstrahlungselektronenmikroskop

Synonym

TEM
Elektronendurchstrahlungsmikroskop
Transmissionselektronenmikroskop

Broader term

Elektronenmikroskop

Topic

Elektrizität, Magnetismus, Optik

Source

M unter Elektronenmikroskop

Record type

Allgemeinbegriff

GND-Identifier

4123096-6

Record ID

041230965

Topic of

show all

Charakterisierung von Grenzschichten am Übergang von metallischen Festigkeitsträgern zu Elastomerwerkstoffen

Automated phase plate application in transmission electron microscopy

Bestimmung der Elementverteilung in Schichtsystemen mit ortsaufgelöster Elektronenenergieverlustspektroskopie im Transmissionselektronenmikroskop

In-situ Bruchversuche an amorph/kristallinen Multilagen im Transmissionselektronenmikroskop

Synthese und Charakterisierung von lumineszierenden, funktionalisierten Silizium-Nanostrukturen für optoelektronische und medizinische Anwendungen

Einsatz eines multivariaten Analyseverfahrens zur Segmentierung von Elementvertreilungsbildern

Structural and thermoelectric characterization of individual single crystalline nanowires

Towards an unambiguous electron magnetic chiral dichroism (EMCD) measurement in a transmission electron microscope (TEM)

Charakterisierung von Nanokristallen in Siliziumkarbid mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Charakterisierung von Nanokristallen in Siliziumkarbid mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Elektronenkristallographie unter dynamischen Bedingungen und konvergenter Bestrahlung im Transmissionselektronenmikroskop : Anwendung auf Ta2P, Sc3Sc0.32Al0.68O6 und ScGaO3

Elektronenkristallographie unter dynamischen Bedingungen und konvergenter Bestrahlung im Transmissionselektronenmikroskop : Anwendung auf Ta2P, Sc3Sc0.32Al0.68O6 und ScGaO3

Charakterisierung und Optimierung des CM30-Special-Tuebingen-Elektronenmikroskops für die hochauflösende Bildebenen-off-axis-Elektronenholographie

Einsatz eines multivariaten Analyseverfahrens zur Segmentierung von Elementverteilungsbildern

Einsatz eines multivariaten Analyseverfahrens zur Segmentierung von Elementverteilungsbildern

A coherence function approach to image simulation

A coherence function approach to image simulation

Design eines Monochromators für Elektronenquellen

Entwicklung einer niederenergetischen Flüssigmetall-Rasterionensonde für die in-situ Ionenätzung im Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop

Untersuchungen zum Vorkommen tubuloretikulärer Strukturen in der rektalen Darmschleimhaut SIV-infizierter Rhesusaffen

Design eines Monochromators für Elektronenquellen

Untersuchungen zur energieverlustspezifischen Elektronenbeugung in einem Transmissionselektronenmikroskop

Anwendungen der Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie in der Materialwissenschaft

Ein neues Untergrundsubtraktionsverfahren zur Bestimmung von Elementverteilungen in biologischen Proben mit einem energiefilternden Transmissionselektronenmikroskop

Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-SiO2

Untersuchung von Auflösungs- und Nachweisgrenzen in Elementverteilungsbildern

Anwendungen der Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie in der Materialwissenschaft

Thermisch und elektronenstrahlinduzierte Mikrostrukturveränderungen in Plasmapolymer-Metall-Compositschichten

Thermisch und elektronenstrahlinduzierte Mikrostrukturveränderungen in Plasmapolymer-Metall-Compositschichten

Untersuchungen zur energiegefilterten Abbildung im Transmissionselektronenmikroskop

Untersuchungen zur energiegefilterten Beugung im Transmissionselektronenmikroskop

Aufbau eines computergesteuerten Multipol-Testbank zur Bestimmung der magnetischen Eigenschaften eines Korrektors zur Korrektur der sphärischen Aberration in einem Transmissionselektronenmikroskop

Modelle zur Beschreibung elektronenmikroskopischer Strahleffekte an Gläsern und Glaskeramiken

Entwicklung und Erprobung eines Spezialelektronenmikroskops mit supraleitender Objektivlinse zur Elektronenholographie

Neue Methoden zur quantitativen Auswertung von energiegefilterten konvergenten Elektronenbeugungsbildern

Werkstoff-Mikroskopie : direkte Durchstrahlung mit Elektronen zur Analyse der Mikrostruktur

Werkstoff-Mikroskopie : Direkte Durchstrahlung mit Elektronen zur Analyse der Mikrostruktur
Please note

The beta version does not yet contain all functions and information of the DNB portal catalogue. If you are missing information or want to order a medium, please visit the page in the DNB portal catalogue via the following link:

DNB portal