Title |
Eignungsnachweis von Prüfprozessen : Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld / Edgar Dietrich/Alfred Schulze |
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Involved |
Edgar Dietrich (Verfasser) |
Published |
München, Wien: Hanser |
Edition |
4., überarb. Aufl. |
Extent |
497 S. : Ill., graph. Darst. |
ISBN |
978-3-446-42777-8 |
Language |
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Country |
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Topic |
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Subject |
Prüftechnik, Eignung, Bewertung, Prüfmittel, Messgenauigkeit |
DDC notation |
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Further information |
Zusätzliches Online-Angebot unter http://www.hanser-fachbuch.de/ebookinside. - Literaturangaben |
Record ID |
1011784785 |
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