Title |
Analyse struktureller und optischer Eigenschaften von semipolarem (Al, Ga, In)N mittels hochauflösender Röntgenbeugung und polarisationsaufgelöster Transmissionsspektroskopie / Martin Frentrup. Gutachter: Michael Kneissl ; Armin Dadgar. Betreuer: Michael Kneissl |
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Involved |
Martin Frentrup (Verfasser) |
Published |
Berlin: Technische Universität Berlin |
Extent |
Online-Ressource |
Thesis |
Berlin, Technische Universität Berlin, Diss., 2014 |
Language |
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Country |
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Topic |
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Subject |
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Persistent identifier |
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Record ID |
1069879355 |
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