Title |
Rückgeführte, hochgenaue Größenmessung von Nanopartikeln im Transmissionsmodus eines Rasterelektronenmikroskops / Tobias Klein |
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Involved |
Tobias Klein (Verfasser) |
Published |
Bremen: Wirtschaftsverlag NW, Verlag für neue Wissenschaft GmbH |
Extent |
viii, 209 Seiten : Illustrationen |
Thesis |
Dissertation, Universität des Saarlandes, 2013 |
ISBN |
978-3-95606-092-2 |
Language |
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Country |
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Topic |
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Subject |
Nanopartikel, Teilchengröße, Rasterelektronenmikroskopie, Durchstrahlungselektronenspektroskopie |
DDC notation |
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Series |
Wissenschaftliche Veröffentlichungen |
Record ID |
1070401285 |
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