Title |
Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam / Markus Krottenthaler |
|---|---|
Involved |
Markus Krottenthaler (Verfasser) |
Published |
Erlangen: FAU University Press |
Extent |
ii, 120 Seiten : Illustrationen |
Thesis |
Dissertation, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2016 |
ISBN |
978-3-96147-002-0 |
Language |
|
Country |
|
Topic |
|
Subject |
Eigenspannung, Elastizität, Anisotropie, Bildkorrelation, Ionenstrahlanalyse, Nickellegierung, Schutzschicht, Kohlenstoff, Amorpher Zustand, Metallisches Glas |
DDC notation |
|
Series |
FAU-Studien Materialwissenschaft und Werkstofftechnik ; Band 11 |
Other editions |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam |
Record ID |
1122127677 |
Please note
The beta version does not yet contain all functions and information of the DNB portal catalogue. If you are missing information or want to order a medium, please visit the page in the DNB portal catalogue via the following link: