Title |
Ultrahochbeschleunigte Lebensdauertests an modernen Kupfer-Leitbahnsystemen in höchstintegrierten Schaltungen / Oliver Aubel |
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Involved |
Oliver Aubel (Verfasser) |
Published |
Aachen: Shaker |
Edition |
1. Auflage |
Extent |
Online-Ressource, 182 Seiten : 125 Illustrationen |
Thesis |
Dissertation, Universität Hannover, 2004 |
ISBN |
978-3-8322-2966-5 |
Language |
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Country |
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Topic |
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Subject |
VLSI, Halbleiterschaltung, Leiterbahn, Kupfer, Lebensdauer, Testen |
Series |
Berichte aus der Halbleitertechnik |
Other editions |
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Ultrahochbeschleunigte Lebensdauertests an modernen Kupfer-Leitbahnsystemen in höchstintegrierten Schaltungen |
Persistent identifier |
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Further information |
Lizenzpflichtig |
Record ID |
1170539629 |
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