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Person

Manfred Grasserbauer (1945-)

Chemiker

Name	Manfred Grasserbauer
Time	1945- (Date of birth and death)
Place	Österreich
Academic degree	O.Univ.Prof., Dipl.-Ing., Dr.techn.
Profession	Chemiker (characteristic profession) Hochschullehrer
Variant	M. Grasserbauer
Related	Technische Universität Wien
Further information	Univ.Prof. am Institut für Chemische Technologien und Analytik der Techn. Univ. Wien
Record type	Person
GND-Identifier	136012523
Record ID	136012523
Involved in show all Multielement ultratrace analysis of molybdenum with high performance secondary ion mass spectrometry The environmental challenge for analytical sciences Analysis of Microelectronic Materials and Devices. John Wiley & Sons, Chichester‐New York‐Brisbane‐Toronto‐Singapore 1991. 934 p. Preis $ 110.00. ISBN 0‐471‐91713‐3 Investigation of the synthesis and internal structure of protective oxide layers on high-purity chromium with SIMS scanning techniques 3rd FECHEM Conference on Philosophy, History and Education in Analytical Chemistry : Vienna, Austria, October 6 - 7, 1995 Quantitative ultratrace distribution analysis of tantalum wires with SIMS Multielement ultratrace analysis in tungsten using secondary ion mass spectrometry Study of the phosphorus embrittlement in heavy metal alloys by a combination of SIMS and TEM Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie Progress in materials analysis with SIMS: Quantitative surface and interface characterization Transient SIMS depth-profiles at the interface Si3N4/GaAs Interface distribution analysis of P in W-NiFe-alloys with SIMS Investigation of surface reactions of metals by quantitative distribution analysis with SIMS Electron-microanalytical investigations of the interfacial corrosion in concrete Analytische Charakterisierung von Phosphor in Hartmetallen und Rohstoffen Erarbeitung mikroanalytischer Charakterisierungs-Kriterien für Schäden der Bausubstanz im Wohnbaubereich als Folge von Mikrophasenumwandlungen In-situ trace analysis of materials with SIMS Neuntes Kolloquium über Metallkundliche Analyse : Wien, 23. - 25. Oktober 1978 Beitrag zur Charakterisierung von hochborhältigen Chrom-Nickel-Molybdän-Kupfer-Stählen mit Hilfe der stereometrischen Analyse Die Bedeutung physikalischer Mikromethoden zur Untersuchung von Stäuben Quantitative flächenanalyse mit der mikrosonde unter verwendung des energiedispersiven systems : Theoretische Grundlagen und praktische Anwendung Röntgenanalyse mit Elektronenstrahlen im Bereich der Mikroanalyse : Die Makrosonde Einsatz der Makrosonde zur Kohlenstoff- und Schwefelbestimmung in Meteoriten Ein Beitrag zur Analyse von Kohlenstoff und Stickstoff in Carbonitriden mit der Makrosonde : Mitteilung aus d. Inst. für Analyt. Chemie u. Mikrochemie d. Techn. Hochsch. Wien = A contribution to the analysis of carbon and nitrogen by means of the macro-probe = Contribution à l'analyse, à la macrosonde, du carbone et de l'azote dans les carbonitrures Über die Möglichkeiten des Einsatzes eines Röntgenstrahlanalysators mit Primäranregung (Makrosonde) in der analytischen Chemie

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Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Manfred Grasserbauer (1945-)

Multielement ultratrace analysis of molybdenum with high performance secondary ion mass spectrometry

The environmental challenge for analytical sciences

Analysis of Microelectronic Materials and Devices. John Wiley & Sons, Chichester‐New York‐Brisbane‐Toronto‐Singapore 1991. 934 p. Preis $ 110.00. ISBN 0‐471‐91713‐3

Investigation of the synthesis and internal structure of protective oxide layers on high-purity chromium with SIMS scanning techniques

3rd FECHEM Conference on Philosophy, History and Education in Analytical Chemistry : Vienna, Austria, October 6 - 7, 1995

Quantitative ultratrace distribution analysis of tantalum wires with SIMS

Multielement ultratrace analysis in tungsten using secondary ion mass spectrometry

Study of the phosphorus embrittlement in heavy metal alloys by a combination of SIMS and TEM

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

Progress in materials analysis with SIMS: Quantitative surface and interface characterization

Transient SIMS depth-profiles at the interface Si3N4/GaAs

Interface distribution analysis of P in W-NiFe-alloys with SIMS

Investigation of surface reactions of metals by quantitative distribution analysis with SIMS

Electron-microanalytical investigations of the interfacial corrosion in concrete

Analytische Charakterisierung von Phosphor in Hartmetallen und Rohstoffen

Erarbeitung mikroanalytischer Charakterisierungs-Kriterien für Schäden der Bausubstanz im Wohnbaubereich als Folge von Mikrophasenumwandlungen

In-situ trace analysis of materials with SIMS

Neuntes Kolloquium über Metallkundliche Analyse : Wien, 23. - 25. Oktober 1978

Beitrag zur Charakterisierung von hochborhältigen Chrom-Nickel-Molybdän-Kupfer-Stählen mit Hilfe der stereometrischen Analyse

Die Bedeutung physikalischer Mikromethoden zur Untersuchung von Stäuben

Quantitative flächenanalyse mit der mikrosonde unter verwendung des energiedispersiven systems : Theoretische Grundlagen und praktische Anwendung

Röntgenanalyse mit Elektronenstrahlen im Bereich der Mikroanalyse : Die Makrosonde

Einsatz der Makrosonde zur Kohlenstoff- und Schwefelbestimmung in Meteoriten

Über die Möglichkeiten des Einsatzes eines Röntgenstrahlanalysators mit Primäranregung (Makrosonde) in der analytischen Chemie