Title |
Raster-Sonden-Mikroskopie mit Cantilever-Arrays (Scanning Probe Microscopy with Cantilever Arrays) |
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Involved |
Ivo W. Rangelow (Verfasser)
Tzvetan Ivanov (Verfasser) Burkhard E. Volland (Verfasser) Denis Dontsov (Verfasser)
Yanko Sarov (Verfasser)
Katerina Ivanova (Verfasser) Arun Persaud (Verfasser) Denis Filenko (Verfasser) Nikolaj Nikolov (Verfasser) Michael Zier (Verfasser) Bernd Schmidt (Verfasser) Teodor Gotszalk (Verfasser) Thomas Sulzback (Verfasser) |
Published in |
Technisches Messen : tm ; Sensoren, Geräte, Systeme ; Organ des AMA Fachverbands für Sensorik e.V. und der NAMUR, Normenarbeitsgemeinschaft für Mess- und Regelungstechnik der Chemischen Industrie 73, 9, 2006, Seite 485-492 |
Published |
25.09.2009 |
Language |
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Country |
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Topic |
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Subject |
piezoresistive cantilever arrays |
DDC notation |
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Persistent identifier |
urn:nbn:de:101:1-2602120634138.919524312780 (URN) |
Record ID |
1389634299 |
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