Title |
Ermittlung von gegendotierenden Profilen in MOS-Strukturen aus dem Vergleich von gemessenen und berechneten Kapazitäts-Spannungs-[C(V)]-Verläufen / Hahn-Meitner-Inst. für Kernforschung Berlin GmbH, Bereich Datenverarbeitung u. Elektronik. H. G. Bach ... |
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Involved |
Heinz-Gunter Bach (Verfasser) |
Published |
Berlin: Hahn-Meitner-Inst. für Kernforschung |
Extent |
74 S. in getr. Zählung : graph. Darst. |
Language |
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Topic |
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Further information |
Literaturangaben |
Record ID |
850137853 |
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