Title |
Bestimmung der elastischen Konstanten von Halbleiter- und Diamantschichten mittels Oberflächenwellenspektroskopie / [vorgelegt von Ralf Kuschnereit] |
|---|---|
Involved |
Ralf Kuschnereit (Verfasser) |
Published |
1997 |
Extent |
II, 107 S. : Ill., graph. Darst. |
Thesis |
Heidelberg, Univ., Diss., 1997 |
Language |
|
Topic |
|
Subject |
Silicium, Amorpher Halbleiter, Dünne Schicht, Oberflächenwelle |
Record ID |
950992895 |
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