Title |
Charakterisierung chemisch modifizierter InP-Oberflächen : Untersuchungen mit XPS/XAES, SXPS und XPD / vorgelegt von Heiko Peisert |
|---|---|
Involved |
Heiko Peisert (Verfasser) |
Published |
1997 |
Extent |
135 Bl. : graph. Darst. |
Thesis |
Leipzig, Univ., Diss., 1997 |
Language |
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Topic |
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Subject |
Indiumphosphid, Kristallfläche, Modifizierung, Sulfidierung, Röntgen-Photoelektronenspektroskopie, Röntgenstrahleninduzierte Auger-Spektroskopie |
Record ID |
951409581 |
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