Title |
Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren / Reiner Schieck |
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Involved |
Reiner Schieck (Verfasser) |
Published |
Aachen: Shaker |
Edition |
Als Ms. gedr. |
Extent |
IV, 142 S. : graph. Darst. |
Thesis |
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1998 |
ISBN |
978-3-8265-3995-4 |
Topic |
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Subject |
Siliciumhalbleiter, Halbleitergrenzfläche, Photostrom, Reflexionsspektroskopie, Mikrowelle |
Series |
Berichte aus der Halbleitertechnik |
Record ID |
954097831 |
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