Title |
Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-SiO2 / vorgelegt von Boris Plikat |
|---|---|
Involved |
Boris Plikat (Verfasser) |
Published |
Göttingen: Cuvillier |
Edition |
1. Aufl. |
Extent |
112 S. : Ill., graph. Darst. |
Thesis |
Zugl.: Göttingen, Univ., Diss., 1998 |
ISBN |
978-3-89712-236-9 |
Topic |
|
Subject |
Silicium, Kristallfläche, Germanium, Amorpher Halbleiter, Durchstrahlungselektronenmikroskop |
Record ID |
954376757 |
Please note
The beta version does not yet contain all functions and information of the DNB portal catalogue. If you are missing information or want to order a medium, please visit the page in the DNB portal catalogue via the following link: