Title |
Verfahren zur elektrischen Defektanalyse / Christopher Hess |
|---|---|
Involved |
Christopher Hess (Verfasser) |
Published |
Düsseldorf: VDI-Verl. |
Edition |
1998 |
Extent |
XI, 202 S. : graph. Darst. |
Thesis |
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998 |
ISBN |
978-3-18-327809-1 |
Topic |
|
Subject |
Halbleitertechnologie, Fehlerortung, Elektrische Messung, Integrierte Schaltung, CAT (Prüftechnik), Entwurfsautomation |
Series |
Fortschrittberichte VDI. Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik ; Nr. 278 |
Record ID |
954442555 |
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