Title |
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen / vorgelegt von Markus Otto-Wilhelm Thönissen |
|---|---|
Involved |
Markus Thönissen (Verfasser) |
Published |
1998 |
Extent |
VIII, 163, XXIII S. : Ill., graph. Darst. |
Thesis |
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1998 |
Language |
|
Topic |
|
Subject |
Silicium, Poröser Stoff, Dünne Schicht, Reflexionsspektroskopie, Raman-Spektroskopie, Röntgen-Photoelektronenspektroskopie |
Record ID |
95615882X |
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