Title |
Über den Zusammenhang von elektronischen Eigenschaften und Eigendefekten in CuInSe2-basierten Chalkopyrithalbleitern / vorgelegt von Bernd Eisener |
|---|---|
Involved |
Bernd Eisener (Verfasser) |
Published |
2000 |
Extent |
133 S. : graph. Darst. |
Thesis |
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2000 |
Topic |
|
Subject |
Kupferindiumselenid, Elektronische Eigenschaft, Gitterbaufehler |
Record ID |
960074082 |
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