Title |
Anwendung von Röntgen-Absorptionsspektroskopie und Röntgen-Diffraktometrie unter resonanten Streubedingungen zur Charakterisierung der strukturellen Nahordnung und des Phasenbestandes / von Dirk C. Meyer |
|---|---|
Involved |
Dirk C. Meyer (Verfasser) |
Published |
2000 |
Extent |
242 S. in getr. Zählung : Ill., graph. Darst. |
Thesis |
Dresden, Techn. Univ., Diss., 2000 |
Language |
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Topic |
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Subject |
Festkörper, Dünne Schicht, Röntgendiffraktometrie, Röntgenabsorptionsspektroskopie, Röntgenstreuung, Resonanzstreuung |
Further information |
Beitr. teilw. dt., teilw. engl. - Enth. 20 Sonderabdr. aus verschiedenen Zeitschr. und 10 Patent-Offenlegungsschriften |
Record ID |
960837027 |
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