Title |
Numerische Simulation und Messung der Mikrowellenreflexion an kristallinem Silizicum / von Olaf Hahneiser |
|---|---|
Involved |
Olaf Hahneiser (Verfasser) |
Published |
1998 |
Thesis |
Berlin, Freie Univ., Diss., 1998 |
Subject |
Siliciumhalbleiter, Ladungsträgerbeweglichkeit, Photostrom, Reflexionsspektroskopie, Mikrowelle, Online-Publikation |
Other editions |
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Numerische Simulation und Messung der Mikrowellenreflexion an kristallinem Silizium |
Persistent identifier |
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Further information |
Dateiformat: zip, Dateien im PDF-Format |
Record ID |
961502991 |
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