Title |
Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie / eingereicht von Claudia Wahl |
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Involved |
Claudia Wahl (Verfasser) |
Published |
2002 |
Extent |
108 Bl. : Ill., graph. Darst. |
Thesis |
Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2002 (Nicht für den Austausch) |
Language |
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Topic |
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Subject |
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Other editions |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie |
Record ID |
964100118 |
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