Title |
Testverfahren für digitale eingebettete Ein-Chip-Systeme / Rainer Dorsch |
|---|---|
Involved |
Rainer Dorsch (Verfasser) |
Published |
Düsseldorf: VDI-Verl. |
Edition |
Als Ms. gedr. |
Extent |
XXIII, 170 S. : graph. Darst. |
Thesis |
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2002 |
ISBN |
978-3-18-336109-0 |
Topic |
|
Subject |
Eingebettetes System, Einchip-Computer, Digitalschaltung, Selbsttest, Testmustergenerierung, Pfadalgorithmus |
Series |
Fortschrittberichte VDI. Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik ; Nr. 361 |
Record ID |
965811522 |
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