Title |
Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Segregation von Ga an Al-Korngrenzen / vorgelegt von Steffen Schmidt. Max-Planck-Institut für Metallforschung |
|---|---|
Involved |
Steffen Schmidt (Verfasser) |
Published |
Stuttgart: Max-Planck-Inst. für Metallforschung |
Extent |
IV, 148 S. : Ill., graph. Darst. |
Thesis |
Zugl.: Stuttgart, Diss., Univ., 2003 |
Topic |
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Subject |
Durchstrahlungselektronenmikroskopie |
Series |
Bericht / Max-Planck-Institut für Metallforschung, Stuttgart ; Nr. 144 |
Other editions |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Segregation von Ga an Al-Korngrenzen |
Record ID |
970179960 |
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