Title |
Tiefenselektive Konversionselektronen-Mößbauerspektroskopie an ionenimplantierten Oberflächen und Heteroschichtstrukturen / von Marco Walterfang |
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Involved |
Marco Walterfang (Verfasser) |
Published |
2003 |
Extent |
III, 262 S. : Ill., graph. Darst. |
Thesis |
Duisburg, Essen, Univ., Diss., 2003 (Nicht für den Austausch) |
Topic |
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Subject |
CEMS, Tiefenprofilmessung, Eisensilicide, Dünne Schicht, Ionenimplantation |
Other editions |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: Tiefenselektive Konversionselektronen-Mößbauerspektroskopie an ionenimplantierten Oberflächen und Heteroschichtstrukturen |
Record ID |
971945993 |
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