Title |
Manhattan picture worlds : Thomas Wrede ; [anlässlich der Ausstellung: Manhattan, Picture Worlds, 05. März - 25. April 2009, New Quarters Beck & Eggeling] / mit Texten von Christoph Schaden ; Marshall Berman. [Gestaltung Sylvia Handschuh. Übers. Stephanie Klco-Brosius ; Tanja Ohlsen] |
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Involved |
Thomas Wrede (Illustrator)
Marshall Berman (Mitwirkender) Christoph Schaden (Mitwirkender) Sylvia Handschuh (Herausgeber)
Ausstellung Manhattan, Picture Worlds (2009, Düsseldorf) (Herausgebendes Organ)
Beck & Eggeling New Quarters (Herausgebendes Organ) |
Published |
Bielefeld, Leipzig: Kerber |
Extent |
115 S. : überw. Ill. |
ISBN |
978-3-86678-244-0 |
Language |
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Country |
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Topic |
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Subject |
Thomas Wrede, Fotografie, Werbeplakat, New York- Manhattan, Bildband |
DDC notation |
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Series |
Kerber photoart |
Further information |
Text dt. und engl. |
Record ID |
991821009 |
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